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Table des matières

1. Document de synthèse

• 1. Portée et méthodologie
  • 1. Portée de la recherche
  • 2. Méthodologie de recherches
• 2. Constations clé
  • 1. Constations clé dans le domaine d'inspection de SMT
  • 2. Constations clé dans le domaine de test de SMT

2. Amorce de technologie et facteurs d'adoption

• 1. Amorce de technologie
  • 1. Assemblée de SMT
  • 2. Inspection de SMT
  • 3. Test de SMT
• 2. Moteurs significatifs de technologie
  • 1. Inspection de SMT
  • 2. Test de SMT
  • 3. Tendances de technologie
• 3. Enjeux significatifs de technologie
  • 1. Inspection de SMT
  • 2. Test de SMT

3. L'analyse de choc d'apparaître tend dans l'inspection de SMT

• 1. Innovations dans l'inspection optique
  • 1. Ombre Moiré--LES Etats-Unis
  • 2. Formation image de Vectoral--LES Etats-Unis
  • 3. Vérification de processus incluse--LES Etats-Unis
  • 4. Inspection optique des mémoires annexes de soudure--L'Israel
  • 5. Perfectionnement de débit--L'Allemagne
• 2. Innovations dans l'inspection X-rayon-Basée
  • 1. inspection à trois dimensions de rayon X--LES Etats-Unis
  • 2. Tomosynthesis décentré--LES Etats-Unis
  • 3. Plateforme versatile de rayon X--L'Allemagne
  • 4. Inspection complètement automatique de rayon X--LES Etats-Unis

4. L'analyse de choc d'apparaître tend dans le test de SMT

• 1. Test en circuit et fonctionnel
  • 1. Test stable et robuste d'ICT--LES Etats-Unis
  • 2. Avances dans l'appareil de contrôle de sonde de vol--LES Etats-Unis
• 2. JTAG
  • 1. SystemBIST et test de JTAG--LES Etats-Unis
  • 2. Épreuve-de-Concept-Système JTAG--LES Etats-Unis
  • 3. SCANFLEX--L'Allemagne
  • 4. Conception pour Testability (DFT)--LES Etats-Unis
  • 5. Développement de accélération d'application de balayage de borne--Pays Bas
  • 6. JTAG intégrant et appareil de contrôle volant de sonde--L'Allemagne

5. Brevets et base de données des participants d'industrie principale

• 1. Brevets et glossaire
  • 1. Brevets sur l'inspection de SMT
  • 2. Brevets sur le test de SMT
• 2. Base de données des participants d'industrie principale
  • 1. Participants d'inspection de SMT
  • 2. Participants de test de SMT

6. Gel et récompenses de la Science 2006 et de technologie de Sullivan

• 1. Récompense d'innovation de technologie
  • 1. Description de récompense
  • 2. Destinataire de récompense
• 2. Excellence dans la récompense de technologie
  • 1. Description de récompense
  • 2. Destinataire de récompense
• 3. Récompense de conduite de technologie
  • 1. Description de récompense
  • 2. Destinataire de récompense

7. Base de données d'aide à la décision

• 1. Tableaux de base de données
  • 1. Base installée par PC d'entreprise--World (1999 2006)
  • 2. Établissements de fabrication globaux--L'Amérique du Nord (1999 2009)
  • 3. Base installée par PC globale--Monde (1999-2006)
  • 4. Cotisation de composants électroniques à l'industrie d'électronique--World (1999 2006)
  • 5. Cotisation médicale et industrielle à l'industrie d'électronique--World (1999 2006)